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工具顯微鏡光柵尺磁柵尺數(shù)顯改裝和維修內(nèi)容
改造內(nèi)容、維修內(nèi)容
改造內(nèi)容：
1、增加200mm傳感器 1套
2、增加100mm傳感器 1套
3、兩套數(shù)字信號讀數(shù)頭(分辨率0.2μm) 2套
4、配信號轉(zhuǎn)換盒 1套
5、配二維計算機輔助測試軟件 1套
6、聯(lián)想計算機、噴墨打印機 各一套
7、增加相關(guān)專用連接附件（縱向、橫向） 2套
8、增加反射照明燈裝置（LED燈） 1套
9、現(xiàn)場技術(shù)培訓(xùn)。
維修內(nèi)容 ：
1、對儀器縱向?qū)к壷本€性進行修理及調(diào)整，使其滿足檢定要求，
2、對儀器橫向?qū)к壷本€性進行修理及調(diào)整，使其滿足檢定要求，
3、對儀器縱向?qū)к?、橫向?qū)к壱苿拥南嗷ゴ怪倍冗M行修理及調(diào)整，使其滿足檢定要求，
4、對儀器金屬置物臺面對縱向?qū)к?、橫向?qū)к夁\動的平性度進行修理及調(diào)整，使其滿足檢定要求，
5、修理及調(diào)整玻璃工作臺面對縱向?qū)к?、橫向?qū)к夁\動的平性度，使其滿足檢定要求，
6、修理及調(diào)整玻璃工作臺面對顯微鏡臂架在立柱上、下移動的垂直度，使其滿足檢定要求，
7、修理及調(diào)整儀器立柱偏擺與頂針架的一直性，使其滿足檢定要求，
8、對儀器主光源系統(tǒng)進行清擦及調(diào)整，使其滿足使用要求，
9、對立柱偏擺光學(xué)讀數(shù)系統(tǒng)進行清擦及調(diào)整，使其滿足使用要求，
10、對測角目鏡光學(xué)系統(tǒng)進行清擦及調(diào)整，使其滿足使用要求。
傳感器安裝方法：
1、在縱向座上安裝200mm光柵尺傳感器一根，在底座上安裝數(shù)字信號讀數(shù)頭（分辨率0.2μm）一套，并調(diào)整它們之間的位置關(guān)系，使之達到讀數(shù)要求；
2、在橫向座上安裝100mm光柵尺傳感器一根，在底座上安裝數(shù)字信號讀數(shù)頭（分辨率0.2μm）一套，并調(diào)整它們之間的位置關(guān)系，使之達到讀數(shù)要求；
3、在導(dǎo)軌右側(cè)或左側(cè)安裝數(shù)顯箱，配220V電壓；
4、在儀器坐廁放置計算機。
二維測量軟件功能介紹
二維計算機測量軟件是二坐標計量儀器的配套軟件，用于采集被測件上的坐標點，再處理成直線，圓和圓弧，并求取它們之間的相互關(guān)系，軟件還有部分形位誤差處理功能。
萬能工具顯微鏡可以測量零件的長度、角度、螺紋等諸多幾何量參數(shù)，是長度計量檢測中使用*多的一種測試儀器，因此廣泛應(yīng)用于機械加工業(yè)的各類企業(yè)。但隨著現(xiàn)代工業(yè)的發(fā)展以及科技的進步，傳統(tǒng)的老式萬工顯已難以滿足要求，因此很有必要對其進行工藝改造。本文以*常用的 JX7 型萬能工具顯微鏡為例，介紹對萬能工具顯微鏡的數(shù)顯工藝改造。
通過用數(shù)顯技術(shù)對萬工顯進行改造，提升了原有儀器的檔次，減輕了檢驗人員的勞動強度特別是保護檢驗人員的眼睛，同時避免了繁瑣的計算，顯著提高了測量效率和測量精度。
一、 數(shù)顯系統(tǒng)的改型
根據(jù)用戶多年在設(shè)備中應(yīng)用光柵、磁柵以及球柵數(shù)顯系統(tǒng)的經(jīng)驗，比較不同數(shù)顯系統(tǒng)的特點并通過性能和精度檢測，選擇SINO信和或新天光柵數(shù)顯系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有制造精度高、穩(wěn)定性好、可靠性好以及裝置簡單、調(diào)試方便、對環(huán)境要求不高等優(yōu)點，適合用于萬工顯的改造。
根據(jù) JX7 型萬工顯的測量范圍為縱坐標 200mm 、橫坐標 100mm ，選用 KG1 型測量范圍 250mm 和測量范圍 100mm 兩根光柵；選用配套的 GS-2000 型兩軸數(shù)顯表（*小分辨率為 0.2 μ m ），它具有傳感器的接口，可與 KG1 型原裝計量傳感器進行配套。
二、數(shù)顯系統(tǒng)的裝置
由于加裝數(shù)顯系統(tǒng)必須在不影響儀器原有光學(xué)系統(tǒng)的前提下進行，所以采用圖 1 所示裝置方案：將 250mm 的長磁尺裝置在縱向?qū)к壍挠覀?cè)（左側(cè)是儀器原有的玻璃刻度尺），因裝置位置所限右側(cè)須加裝一個支承塊，用來固定光柵的右端； 100mm 的光柵裝置在橫向?qū)к壍?*（圖 1B 處）。按照說明書上的裝置工藝條件，分別將兩個尺子裝置基面調(diào)整到與縱、橫向?qū)к夁\動方向（水平方向和垂直方向）平行，其平行度< 0.1mm （通常裝置時都能方便地調(diào)整到 0.05mm 以內(nèi)）。
三、數(shù)顯系統(tǒng)的調(diào)試
縱坐標的調(diào)試：取下一起縱向?qū)к壣系牟ＡЧぷ髋_，將一塊 200mm 的 3 等量塊兩端分別研上 10mm 的量塊附件，將其裝置在縱向?qū)к壒窝谢妫ㄒ妶D 1 量塊安置處），使其與光柵尺裝置在同一直線上，以減少阿貝差別。再用裝置在儀器橫向滑架上的計量傳感器測頭與量塊的一端接觸，此時數(shù)顯表開始計數(shù)，然后移動縱向?qū)к壥箓鞲衅鳒y頭與量塊的另一端接觸，在接觸的瞬間數(shù)顯表停止計數(shù)并保持數(shù)據(jù)。數(shù)顯表的顯示值與量塊的實際尺寸之差就是數(shù)顯系統(tǒng)的差值。該差值若小于 3 μ m 則不必修正，若大于 3 μ m 時可根據(jù)差值的大小通過數(shù)顯表的差別補償系統(tǒng)進行線性補償，可使差別小于規(guī)定的數(shù)值甚至接近于零。
以同樣的方法用 100mm 的量塊對橫坐標進行調(diào)試，此不贅述。
四、數(shù)顯系統(tǒng)的檢定
根據(jù)萬工顯檢定規(guī)程中的相關(guān)規(guī)定，需要檢定讀數(shù)裝置的示值差別、讀數(shù)裝置的回程差別和示值差別。
（ 1 ） 讀數(shù)裝置的示值差別檢定
對數(shù)顯系統(tǒng)來說，讀數(shù)裝置的示值差別就是數(shù)顯表的*小分辨率，即± 0.5 μ m ，無須檢定。
（ 2 ）讀數(shù)裝置的示值差別的檢定（相當于磁柵尺的重復(fù)性）
光柵尺讀數(shù)裝置就其構(gòu)造和原理來說是沒有回程差別的，當然這需要很高的工藝水平做保證。通過用 0.1 μ m 的電感測微儀反復(fù)測試，光柵尺讀數(shù)裝置的回程差別*大不超過 0.5 μ m 。
（ 3 ）示值差別的檢定（相當于磁柵尺的精度）
用檢定極限差別不大于 0.5 μ m 的玻璃刻度尺作為標準，按照規(guī)程規(guī)定的條件方法對縱、橫向分別進行檢定；若沒有玻璃刻度尺，可用萬工顯原有的刻度尺與光柵尺進行比較檢定，并用儀器原有的示值差別進行修正，以確定光柵尺各被檢點的實際差別，若有超差再用線性補償系統(tǒng)進行補償。
